Arhiv objav
- 31.08.23Vakuumska delavnica
- 03.02.23Nov FIB
- 24.01.23webinarji o čisto trdnih baterijah
- 13.12.22Virusi pod krio ARM-om
- 03.10.22Nova brošura vakuumskih komor
- 27.09.22pogovori ob kavi
- 26.08.22HiScroll z zaloge
- 17.08.22Vakuumski slovarček
- 16.08.22Emisije v vakuumu
- 30.03.22Zaposlujemo
- 17.03.22Novice za krio-mikroskopiste
- 03.11.21Omnicontrol; Nadzor nad vsem
Elektronski mikroskop z atomsko ločljivostjo
09.08.21
Z novo generacijo presevnega elektronskega mikroskopa so garantirane ločljivosti izboljšane od 10 pikometra do 0.1 nanometra pri različnih polovih čevljih in pospeševalnih napetostih. Izboljšana je tudi tokovna stabilnost izvora elektronov
predstavitev:
https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JEM-ARM300F2.html
video:
https://www.youtube.com/watch?v=Cdu86P46nd8&feature=youtu.be
