Arhiv objav
- 09.05.19Shranjevanje električne energije
- 03.05.19Prednosti JEOL mikroskopov
- 23.04.19Posodobljen JEOL-ov slovar
- 03.04.19zaposlimo
- 27.03.19Nov namizni SEM
- 25.03.19Elektronska mikroskopija v biolgiji
- 21.03.19Širitev JEOL NMR
- 22.05.18Mednarodni dan čebel
- 26.03.18Nov SEM IT 200
- 09.03.18Dreebit in Nor-Cal
- 07.03.18TEM - azbestna vlakna
- 14.03.17Nov SDD EDS detektor
Elektronski mikroskop z atomsko ločljivostjo
09.08.21
Z novo generacijo presevnega elektronskega mikroskopa so garantirane ločljivosti izboljšane od 10 pikometra do 0.1 nanometra pri različnih polovih čevljih in pospeševalnih napetostih. Izboljšana je tudi tokovna stabilnost izvora elektronov
predstavitev:
https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JEM-ARM300F2.html
video:
https://www.youtube.com/watch?v=Cdu86P46nd8&feature=youtu.be