Elektronski mikroskop z atomsko ločljivostjo

09.08.21

Z novo generacijo presevnega elektronskega mikroskopa so garantirane ločljivosti izboljšane od 10 pikometra do 0.1 nanometra pri različnih polovih čevljih in pospeševalnih napetostih. Izboljšana je tudi tokovna stabilnost izvora elektronov 

predstavitev:

https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JEM-ARM300F2.html

video:

https://www.youtube.com/watch?v=Cdu86P46nd8&feature=youtu.be

Oglasi:

JEOL
Pfeiffer vacuum
Oxford Instruments
RMC
AIR Liquide / Cryopal
SPI
VAT AG
HSR AG