Arhiv objav
- 31.08.23Vakuumska delavnica
- 03.02.23Nov FIB
- 24.01.23webinarji o čisto trdnih baterijah
- 13.12.22Virusi pod krio ARM-om
- 03.10.22Nova brošura vakuumskih komor
- 27.09.22pogovori ob kavi
- 26.08.22HiScroll z zaloge
- 17.08.22Vakuumski slovarček
- 16.08.22Emisije v vakuumu
- 30.03.22Zaposlujemo
- 17.03.22Novice za krio-mikroskopiste
- 03.11.21Omnicontrol; Nadzor nad vsem
Nov FIB
03.02.23
JEOL predstavlja nov FIB: JIB-PS500i
The JIB-PS500i ponuja tri rešitve za pomoč TEM pripravi vzorcev. zagotovljen je visok pretok pri prenosu vzorca do TEM opazovanja.
