Prednosti JEOL mikroskopov

03.05.19

Naš principal JEOL izdeluje tudi odlične nove FEGSEM elektronske mikroskope z vrhunsko ločljivostjo,  ki imajo nekaj patentiranih prednosti kot so :

  • INLENS GUN  (visoki in stabilni elektronski tokovi za odlične analize z dobro prostorsko ločljivostjo tudi pri nizkih pospeševalnih napetostih 5kV )
  • ACL – dodatna ACL leča ( nadzira premer elektronskega snopa pri čemer lahko elektronski tok poljubno spreminjamo od velikega do majhnega; omogoča veliko globinsko ostrino, ki je večja kot pri konvencionalnih vrstičnih elektronskih mikroskopih)

Druge prednosti so še, da pri vseh FEGSEM mikroskopih JEOL zagotavlja- daje garancijo na  neprekinjeno emisijo FEGSEM izvora 3 leta.

Pokličite nas in z veseljem Vam bomo svetovali primeren model  FEGSEMa za vaše potrebe.

 

Vrhunska ločljivost : JEOL uporablja v svojih katalogih zelo konzervativen pristop do merjenja ločljivosti in raje navaja v katalogih  ločljivosti, ki so navidez slabše od konkurence. 

Tako recimo za model JSM IT 800 HL   navaja v katalogih ločljivosti, ki se lahko dokažejo pri kupcu z konzervativno edge metodo. Obstajajo tudi druge metode merjenja, recimo  po ISO STD 25497:2011 derivativni metodi ali po edge metodi 35%-65%, ki je široko uporabljana.  JEOL lahko dokaže odlične ločljivosti svojih FEGSEMov po vseh metodah.


 

JSM IT 800 HL

Konzervativna metoda v katalogu – edge metoda – garantirane vrednosti

ISO STD 25497:2011 derivativna metoda

garantirane vrednosti

Najboljše ločljivosti dosegljive in garantirane vrednosti -

Edge metoda 35%-65%

Visoki vakuum (HV),

SEI slika

20kV

0,7nm

0,65nm

<0,6nm

1kV

1,3 nm

< 1 nm

0,9nm

15kV, 5nA in analitska delovna razdalja

3nm

1,9nm

<1,9nm

Nizki vakuum (LV)

30kV , 10Pa

1,3 nm

1,3nm

1,3 nm

Oglasi:

JEOL
Pfeiffer vacuum
Oxford Instruments
RMC
AIR Liquide / Cryopal
SPI
VAT AG
HSR AG